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SOLUTION

제품소개

인공지능 외관 검사 비전 S/W (Wafer AOI검사 공정)

● 주요 기술


•AI Deep Learning & Inspection : 인공지능 학습, 검사

•Report & Display : 검사 결과 DB와 상위 MES에 보고, 디스플레이

● 검사 항목

● 비전 검사 S/W

Align 비전 S/W

● 주요 기술


• HBM 디바이스 테스트 설비 적용

• Repeatability < 10um

• Telecentric Lens

SNDA Corp. | CEO : Gyun-Seop Shin

[Head Office] #905, G1 Biz Campus, 40-11, 2gongdan 4-ro, Seobuk-gu, Cheonan-si, Chungcheongnam-do, Korea (Tel: +82-41-538-8905)

[R&D Center] #1406, SH Square 1st, 635, Dongtan-daero, Hwaseong-si, Gyeonggi-do, Korea (Tel: +82-31-375-5449)

Fax: +82-31-375-9632
E-mail: snda@snda.co.kr

SNDA Corp. | CEO : Gyun-Seop Shin

[Head Office] #905, G1 Biz Campus, 40-11, 2gongdan 4-ro, Seobuk-gu, Cheonan-si, Chungcheongnam-do, Korea (Tel: +82-41-538-8905)

[R&D Center] #1406, SH Square 1st, 635, Dongtan-daero, Hwaseong-si, Gyeonggi-do, Korea (Tel: +82-31-375-5449)

Fax: +82-31-375-9632
E-mail: snda@snda.co.kr